ElektroPhysik SmarTest Bluetooth Sensor Ketebalan Lapisan (3 Model Dalam Keluarga Produk Ini)
from
Rp.20.868.000
Sebelum Pajak: Rp.20.868.000
- Brand: ElektroPhysik
- Suku Cadang: 80-126
- Ketersediaan: 2 - 4 MINGGU
- Update Terakhir: 04 Dec 2025
![ElektroPhysik F0.5 [80-135-0200] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F0.5-800x800.webp)
![ElektroPhysik FN5 [80-135-0600] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Ferrous dan Non-Ferrous hingga 195 mils / 5000 mikron (F), 100 mils / 2500 mikron (N)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN5-800x800.webp)
![ElektroPhysik F05M-0 [80-135-2800] Mikro Sensor Versi Lurus, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F05M-800x800.webp)
![ElektroPhysik F05M-90 [80-135-3000] Mikrosensor Versi 90°, Probe Mengukur Lapisan Pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F05M-90-800x800.webp)
![ElektroPhysik F05 [80-135-1600] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F05-800x800.webp)
![ElektroPhysik F1.5 [80-135-0000] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 60 mil / 1500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F1.5-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 1.50-90 [80-135-2100] 90° untuk Probe Tabung Internal untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 60 mil / 1500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F1.50-90-800x800.webp)
![ElektroPhysik F5 [80-135-0400] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Besi hingga 195 mil / 5000 mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F5-800x800.webp)
![ElektroPhysik F15 [80-135-0700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Besi hingga 590 mils / 15.000 mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F15-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 35 [80-135-3700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Besi hingga 1375 mils / 35000 mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F35-800x800.webp)
![ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 8 mil / 200 mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N0.2-800x800.webp)
![ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mils / 700 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N07-800x800.webp)
![ElektroPhysik N0.7-90 [80-135-2200] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mil / 700 Mikron.](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N07.90-800x800.webp)
![ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N2.5-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 7 [80-135-2400] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 275 mils / 7000 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N7-800x800.webp)
![ElektroPhysik FN1.5-90 [80-135-2300] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 60 mil / 1500 Mikron (F), 28 mil / 700 Mikron (N)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN1.5-90-800x800.webp)
![ElektroPhysik FN 2.6 [80-135-3500] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 102 mil / 2600 Mikron (F), 51 mil / 1300 Mikron (N)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN2.6-800x800.webp)
![ElektroPhysik F05M-45 [80-135-2900] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F05M-45-800x800.webp)
![ElektroPhysik N0.3M [80-135-3100] Sensor Mikro Versi Lurus, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron.](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N0.3M-800x800.webp)
![ElektroPhysik N0.3M-45 [80-135-3200] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N0.3M-45-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 2.6 [80-135-3400] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 102 mils / 2600 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysi_F2.6-800x800.webp)
