Gratis Pengiriman
Support Handal
Dapatkan penawaran gratis

ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron

ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron
ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron
ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron. ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] adalah probe non-besi (tipe-N) yang dirancang untuk digunakan dengan alat pengukur ketebalan lapisan ElektroPhysik yang kompatibel (seperti seri MiniTest 725, 735, atau 745). Alat ini beroperasi menggunakan prinsip pengukuran arus eddy untuk mengukur lapisan non-konduktif pada substrat logam non-besi.
  Pilihan Produk 0 Item Terpilih
Image
Model
Nama Produk
Harga
Ketersediaan
Jumlah
ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron
80-135-0500
Rp.36.144.800
4 - 6 MINGGU
  Produk Terkait 0 Item Terpilih
Beberapa Produk

telah ditambahkan ke keranjang Anda

Ada item di keranjang anda.

Subtotal Keranjang: $xxx.xx

Pergi ke pembayaran