Filter
Gratis Pengiriman
Support Handal
Dapatkan penawaran gratis
0 item(s) - Rp.0 0

  • Daftar belanja Anda kosong!

0

ElektroPhysik Aksesori

ElektroPhysik menyediakan berbagai aksesori untuk alat ukur mereka, dengan fokus utama pada barang-barang yang membantu dalam kalibrasi, perlindungan, dan pengukuran presisi untuk aplikasi seperti pengukuran ketebalan lapisan dan ketebalan dinding.                                                                                                                                                                                                                                                                      


Bandingkan 0
Quickview
ElektroPhysik F 2.6 [80-135-3400] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 102 mils / 2600 Mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik F 2.6 [80-135-3400] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 102 mils / 2600 Mikron
from
Rp.40.445.600
Pajak Ex:Rp.40.445.600
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N0.3M-90 [80-135-3300] Mikrosensor Versi 90°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 12 mil / 300 Mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N0.3M-90 [80-135-3300] Mikrosensor Versi 90°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 12 mil / 300 Mikron
from
Rp.45.053.600
Pajak Ex:Rp.45.053.600
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N0.3M-45 [80-135-3200] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N0.3M-45 [80-135-3200] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron
from
Rp.45.053.600
Pajak Ex:Rp.45.053.600
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N0.3M [80-135-3100] Sensor Mikro Versi Lurus, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron.
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N0.3M [80-135-3100] Sensor Mikro Versi Lurus, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron.
from
Rp.45.053.600
Pajak Ex:Rp.45.053.600
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik F05M-45 [80-135-2900] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik F05M-45 [80-135-2900] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron
from
Rp.42.288.800
Pajak Ex:Rp.42.288.800
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik FN 2.6 [80-135-3500] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 102 mil / 2600 Mikron (F), 51 mil / 1300 Mikron (N)
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik FN 2.6 [80-135-3500] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 102 mil / 2600 Mikron (F), 51 mil / 1300 Mikron (N)
from
Rp.53.348.000
Pajak Ex:Rp.53.348.000
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik FN1.5-90 [80-135-2300] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 60 mil / 1500 Mikron (F), 28 mil / 700 Mikron (N)
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik FN1.5-90 [80-135-2300] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 60 mil / 1500 Mikron (F), 28 mil / 700 Mikron (N)
from
Rp.73.316.000
Pajak Ex:Rp.73.316.000
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N 7 [80-135-2400] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 275 mils / 7000 Mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N 7 [80-135-2400] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 275 mils / 7000 Mikron
from
Rp.41.520.800
Pajak Ex:Rp.41.520.800
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron
from
Rp.36.144.800
Pajak Ex:Rp.36.144.800
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N0.7-90 [80-135-2200] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mil / 700 Mikron.
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N0.7-90 [80-135-2200] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mil / 700 Mikron.
from
Rp.56.266.400
Pajak Ex:Rp.56.266.400
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mils / 700 Mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mils / 700 Mikron
from
Rp.41.520.800
Pajak Ex:Rp.41.520.800
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Quickview
ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 8 mil / 200 mikron
New
Brand: ElektroPhysik
ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 8 mil / 200 mikron
from
Rp.41.520.800
Pajak Ex:Rp.41.520.800
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Menampilkan 1 sampai 12 dari 53 (5 Halaman)
Product Filter