Gratis Pengiriman
Support Handal
Dapatkan penawaran gratis
0 item(s) - Rp.0 0

  • Daftar belanja Anda kosong!

0

ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)

ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
ElektroPhysik MiniTest 745 Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe yang Dapat Diganti (28 Model dalam Keluarga Produk Ini)
0 ulasan • Tulis ulasan
from
Rp.44.132.000
Sebelum Pajak: Rp.44.132.000
  • Brand: ElektroPhysik
  • Suku Cadang: 80-138-0000
  • Ketersediaan: 4 - 6 MINGGU
  • Update Terakhir: 01 Dec 2025
ElektroPhysik ElektroPhysik
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
 Configure Options
Tags/penandaan: Additel , Digital , Pressure , Calibrators

Dirancang untuk fleksibilitas maksimal untuk kontrol kualitas dan inspeksi, sensor model MiniTest 745 dapat dengan mudah dikonversi dari probe integral ke pengaturan probe berkabel. Pengukur ketebalan lapisan MiniTest 745 yang baru adalah solusi untuk semua masalah ketebalan lapisan Anda, di mana hasil akhir yang andal dan tampilan produk yang sempurna memainkan peran utama untuk nilai dan kesuksesan jangka panjang, misalnya pengukur MiniTest 745 memiliki opsi pengaturan kecepatan pengukuran yang memungkinkan penyesuaian terhadap perubahan persyaratan untuk efisiensi maksimal dan produktivitas optimal: melakukan banyak pembacaan dalam waktu singkat dengan presisi sedang atau hanya melakukan beberapa pembacaan dengan akurasi yang lebih tinggi . Selain itu, MiniTest 745 dirancang secara ergonomis dan bentuknya yang membulat memungkinkan pengukur MiniTest pas di telapak tangan Anda. Semua sensor MiniTest 745 secara sempurna mengimbangi permukaan yang tidak beraturan berkat metode kalibrasi yang telah ditetapkan sebelumnya yang tersedia untuk beradaptasi dengan berbagai kondisi permukaan yang berbeda dan persyaratan akurasi.

Pengukur MiniTest 745 dilengkapi dengan sensor SIDSP® yang baru. SIDSP® adalah teknologi terdepan di dunia untuk sensor ketebalan lapisan. Dengan teknologi baru ini, tolok ukur baru untuk pengukuran ketebalan lapisan yang inovatif telah ditetapkan. SIDSP® adalah singkatan dari Sensor-Integrated Digital Signal Processing - teknologi di mana sinyal sepenuhnya diproses ke dalam bentuk digital di dalam sensor pada waktu dan titik pengukuran. Sensor SIDSP® diproduksi menurut teknik produksi yang benar-benar baru dan canggih. Tidak seperti teknik konvensional, sensor SIDSP® membuat dan mengontrol sinyal eksitasi untuk kepala sensor di dalam sensor. Sinyal yang kembali secara langsung dikonversi secara digital dan diproses pada akurasi 32 bit untuk memberi Anda nilai ketebalan lapisan yang lengkap. Untuk teknik ini, metode pemrosesan sinyal digital yang sangat canggih digunakan seperti yang dikenal dari teknologi telekomunikasi modern (jaringan telepon seluler) seperti filter digital, pengubahan pita dasar, rata-rata, analisis stokastik, dll. Hal ini memungkinkan pengguna untuk mencapai kualitas dan presisi sinyal yang tidak tertandingi sejauh ini dengan pemrosesan sinyal analog. Nilai ketebalan ditransmisikan secara digital melalui kabel sensor ke unit tampilan. Menetapkan standar baru dalam pengukuran ketebalan lapisan, teknologi ini menawarkan keunggulan dan peningkatan yang menentukan dibandingkan dengan sensor analog yang biasa digunakan.


Sensor SIDSP® yang baru menjamin hal-hal berikut ini:
  • Kestabilan sinyal pengukuran yang tinggi
  • Kurva karakteristik sensor SIDSP® memiliki akurasi yang tinggi
  • Sensor SIDSP® memberikan kemampuan beradaptasi yang sangat baik
  • Sensor SIDSP® N dan FN mengimbangi konduktivitas substrat
  • Sensor SIDSP® sangat tidak sensitif terhadap perubahan suhu
  • Sensor SIDSP® tahan aus
  • Solusi berorientasi masa depan
Pengiriman perangkat ini sudah termasuk perangkat lunak transfer data MSoft 7 basic.

  MINITEST 475 DENGAN PROBE BESI 0 Item Terpilih
Image
Model
Nama Produk
Harga
Ketersediaan
Jumlah
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-135-1600] Alat Ukur Ketebalan Lapisan dengan Probe F0.5 untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 mikron
80-138-0000+80-135-1600
Rp.84.577.600
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-138-0000] Alat Ukur Ketebalan Lapisan dengan Probe F1.5 untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 60 mil / 1500 mikron
80-138-0000+80-135-0000
Rp.84.577.600
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-135-2100] Pengukur Ketebalan Lapisan dengan F1.5-90 untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Besi di Dalam Tabung hingga 60 mil / 1500 mikron
80-138-0000+80-135-2100
Rp.96.712.000
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000 + 80-135-0300] Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe F2 untuk MiniTest 745, Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 80 mil / 2000 Mikron
80-138-0000+80-135-0300
Rp.77.512.000
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-135-3400] Alat Ukur Ketebalan Lapisan dengan Probe F2.6 untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 102 mil / 2600 mikron
80-138-0000+80-135-3400
Rp.84.577.600
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-135-0400] Alat Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe F5 untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 195 mil / 5000 mikron
80-138-0000+80-135-0400
Rp.77.512.000
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-135-3600] Pengukur Ketebalan Lapisan dengan Probe F5HT Hi-Temp untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 0-5 mm / 0-0,200 inci
80-138-0000+80-135-3600
Rp.131.425.600
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-135-0700] Alat Ukur Ketebalan Lapisan dengan Probe F15 untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 590 mils / 15.000 mikron
80-138-0000+80-135-0700
Rp.99.937.600
4 - 6 MINGGU
ElektroPhysik MiniTest 745 [80-138-0000+80-135-3700] Alat Ukur Ketebalan Lapisan dengan F 35, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 1375 mils / 35000 mikron
80-138-0000+80-135-3700
Rp.104.852.800
4 - 6 MINGGU
  MINITEST 745 WITH NON-FERROUS PROBES 0 Item Terpilih
  MINITEST 745 DENGAN MICROPROBE BESI 0 Item Terpilih
  MINITEST 745 DENGAN MICROPROBE NON-BESI 0 Item Terpilih
  MINTEST 745 DENGAN PROBE BESI DAN NON-BESI 0 Item Terpilih
  Accessories 0 Item Terpilih
Beberapa Produk

telah ditambahkan ke keranjang Anda

Ada item di keranjang anda.

Subtotal Keranjang: $xxx.xx

Pergi ke pembayaran