Gratis Pengiriman
Support Handal
Dapatkan penawaran gratis

ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 8 mil / 200 mikron

ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 8 mil / 200 mikron
ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 8 mil / 200 mikron
ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 8 mil / 200 Mikron ElektroPhysik N0.2 (nomor pesanan 80-135-1700) adalah probe ketebalan lapisan non-besi khusus yang digunakan dengan alat pengukur ElektroPhysik yang kompatibel seperti MiniTest 745. Fitur utamanya adalah:
  Pilihan Produk 0 Item Terpilih
Image
Model
Nama Produk
Harga
Ketersediaan
Jumlah
ElektroPhysik N0.2 [80-135-1700] Probe untuk Pengukuran Lapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 8 mil / 200 mikron
80-135-1700
Rp.41.520.800
4 - 6 MINGGU
  Produk Terkait 0 Item Terpilih
Beberapa Produk

telah ditambahkan ke keranjang Anda

Ada item di keranjang anda.

Subtotal Keranjang: $xxx.xx

Pergi ke pembayaran