Gratis Pengiriman
Support Handal
Dapatkan penawaran gratis

ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mils / 700 Mikron

ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mils / 700 Mikron
ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mils / 700 Mikron
ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mil / 700 Mikron Sensor ElektroPhysik N0. 7 (nomor pesanan 80-135-0100) adalah probe khusus yang dirancang untuk pengukuran ketebalan lapisan non-destruktif, terutama untuk digunakan dengan alat pengukur MiniTest 725, 735, 745, dan SmarTest.
  Pilihan Produk 0 Item Terpilih
Image
Model
Nama Produk
Harga
Ketersediaan
Jumlah
ElektroPhysik N0. 7 [80-135-0100] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mils / 700 Mikron
80-135-0100
Rp.41.520.800
4 - 6 MINGGU
  Produk Terkait 0 Item Terpilih
Beberapa Produk

telah ditambahkan ke keranjang Anda

Ada item di keranjang anda.

Subtotal Keranjang: $xxx.xx

Pergi ke pembayaran