ElektroPhysik MiniTest 4500 Pengukur Ketebalan Lapisan
from
Rp.52.068.000
Sebelum Pajak: Rp.52.068.000
- Brand: ElektroPhysik
- Suku Cadang: 80-144-0000
- Ketersediaan: 4 - 6 MINGGU
- Update Terakhir: 03 Dec 2025
![ElektroPhysik F05 [80-0A0-1202] Probe untuk penggunaan pada substrat logam feromagnetik (0-500 mikrometer / 20 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F05-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 1.6 [80-0A1-1603] Probe Untuk Penggunaan Pada Substrat Logam Feromagnetik (0-1600 mikrometer / 63 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F1.6-800x800.webp)
![ElektroPhysik F2 HT [80-0A1-1202] Probe untuk digunakan pada Substrat Besi Bersuhu Tinggi (250 C / 482 F) (80-0A1-1202)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F2HT-800x800.webp)
![ElektroPhysik F2 EX-HT [80-0A1-1302] Probe Besi untuk Penggunaan Pada Substrat Besi Bertekanan Ekstra Tinggi (350°C / 662°F) (0-2000 μm / 80 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F2EXHT-800x800.webp)
![ElektroPhysik F3 [80-0A1-1403] Probe Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-3000 um / 120 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F3-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 1.6/90 [80-0A4-1200] Probe Besi 90 Derajat untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-1600 um / 63 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F1.6-90-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 2/90 [80-0A4-1300] Probe Besi 90 Derajat untuk Penggunaan Pada Substrat Besi (0-2000 um / 80 mils)](https://indomultimeter.com/image/cache/catalog/image/No_Image-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 10 [80-0A6-1001] Probe Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-10 mm / 394 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F10-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 20 [80-0A8-1001] Probe Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-20 mm / 788 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F20-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] Probe untuk Digunakan pada Substrat Besi (80-0AA-1000)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F50-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 02 [80-0A2-1001] Probe Non-Besi untuk Digunakan pada Substrat Non-Besi (0-200 μm / 8 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N20-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 1.6 [80-0A3-1302] Probe Non-Ferrous untuk Penggunaan pada Substrat Non-Ferrous (0-1600 μm / 63 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N1.6-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 10 [80-0A7-1000] Probe Non-Ferrous untuk Penggunaan pada Substrat Non-Ferrous (80-0A7-1000)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N10-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 100 [80-0B1-1000] Probe Non-Besi untuk Digunakan pada Substrat Non-Besi (0-100 mm / 4 inci)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N100-800x800.webp)
![ElektroPhysik FN 1.6 [80-080-1402] Probe Kombinasi Besi dan Non-Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi dan Non-Besi (0-1600 um / 64 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN1.6-800x800.webp)
![ElektroPhysik FN 1.6/90 [80-082-1000] Probe Kombinasi Besi dan Non-Besi 90 Derajat untuk Penggunaan pada Substrat Besi dan Non-Besi (0-1600 μm / 63 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN1.6-90-800x800.webp)
![ElektroPhysik N.08 Cr [80-0A2-1101] Probe Khusus untuk Mengukur Lapisan Krom pada Substrat Tembaga (0-80 μm / 3 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N08-Cr-800x800.webp)
![ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] Probe Khusus untuk Lapisan Tembaga pada Substrat Isolasi, 0-8 mil (0-200 μm)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_CN02-800x800.webp)
