Gratis Pengiriman
Support Handal
Dapatkan penawaran gratis
0 item(s) - Rp.0 0

  • Daftar belanja Anda kosong!

0

ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] Probe Khusus untuk Lapisan Tembaga pada Substrat Isolasi, 0-8 mil (0-200 μm)

ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] Probe Khusus untuk Lapisan Tembaga pada Substrat Isolasi, 0-8 mil (0-200 μm)
ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] Probe Khusus untuk Lapisan Tembaga pada Substrat Isolasi, 0-8 mil (0-200 μm)
0 ulasan • Tulis ulasan
from
Rp.60.260.000
Sebelum Pajak: Rp.60.260.000
  • Brand: ElektroPhysik
  • Suku Cadang: 80-0B4-1001
  • Ketersediaan: 4 - 6 MINGGU
  • Update Terakhir: 03 Dec 2025
ElektroPhysik ElektroPhysik
+ Keranjang
Tambah ke Favorit Bandingkan produk ini
Tags/penandaan: Additel , Digital , Pressure , Calibrators

ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] Probe Khusus untuk Lapisan Tembaga pada Substrat Isolasi, 0-8 mil (0-200 μm). ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] adalah probe khusus yang digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan tembaga pada substrat isolasi. Ini bukan perangkat mandiri, tetapi sensor yang dapat dipertukarkan yang kompatibel dengan pengukur ketebalan lapisan ElektroPhysik MiniTest tertentu, seperti model MiniTest 2500 dan 4500.

  Pilihan Produk 0 Item Terpilih
Image
Model
Nama Produk
Harga
Ketersediaan
Jumlah
ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] Probe Khusus untuk Lapisan Tembaga pada Substrat Isolasi, 0-8 mil (0-200 μm)
80-0B4-1001
Rp.60.260.000
4 - 6 MINGGU
  Produk Terkait 0 Item Terpilih
Beberapa Produk

telah ditambahkan ke keranjang Anda

Ada item di keranjang anda.

Subtotal Keranjang: $xxx.xx

Pergi ke pembayaran