Belanja Berdasarkan Merk
Clamp Meters
Datacom and Networking
Ground Tester
Hand Tools
HVAC Equipment and Instruments
Life Sciences Equipment
Megohmmeter
Multimeters
Oscilloscopse
Power Measurement
Power Supplies
Power Tools
Process / Calibration
Safety Testing / Surge Testing
Safety Equipment
Signal Generators / Counters
Soldering Equipment
Spectrum Analyzers
Surveying Equipment
Thermal Imagers
Merk
Katalog
Test Equipment
Inspector Tools
Environmental
Power Tools
Daftar belanja Anda kosong!
ElektroPhysik MiniTest 2500 adalah pengukur ketebalan lapisan non-destruktif untuk pengukuran presisi pada berbagai bahan. Alat ini merupakan bagian dari seri yang mencakup berbagai sensor untuk berbagai aplikasi, memiliki memori internal yang besar, dan menggunakan prinsip induksi magnetik untuk pelapisan non-magnetik pada baja atau prinsip arus pusar untuk pelapisan isolasi pada logam non-besi. MiniTest 2500 adalah model dasar dari seri MiniTest 2500-4500, yang juga mencakup MiniTest 4500 yang lebih canggih dengan fitur tambahan seperti Bluetooth.
![ElektroPhysik F05 [80-0A0-1202] Probe untuk penggunaan pada substrat logam feromagnetik (0-500 mikrometer / 20 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F05-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 1.6 [80-0A1-1603] Probe Untuk Penggunaan Pada Substrat Logam Feromagnetik (0-1600 mikrometer / 63 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F1.6-800x800.webp)
![ElektroPhysik F2 HT [80-0A1-1202] Probe untuk digunakan pada Substrat Besi Bersuhu Tinggi (250 C / 482 F) (80-0A1-1202)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F2HT-800x800.webp)
![ElektroPhysik F2 EX-HT [80-0A1-1302] Probe Besi untuk Penggunaan Pada Substrat Besi Bertekanan Ekstra Tinggi (350°C / 662°F) (0-2000 μm / 80 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F2EXHT-800x800.webp)
![ElektroPhysik F3 [80-0A1-1403] Probe Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-3000 um / 120 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F3-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 1.6/90 [80-0A4-1200] Probe Besi 90 Derajat untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-1600 um / 63 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F1.6-90-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 2/90 [80-0A4-1300] Probe Besi 90 Derajat untuk Penggunaan Pada Substrat Besi (0-2000 um / 80 mils)](https://indomultimeter.com/image/cache/catalog/image/No_Image-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 10 [80-0A6-1001] Probe Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-10 mm / 394 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F10-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 20 [80-0A8-1001] Probe Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi (0-20 mm / 788 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F20-800x800.webp)
![ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] Probe untuk Digunakan pada Substrat Besi (80-0AA-1000)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F50-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 02 [80-0A2-1001] Probe Non-Besi untuk Digunakan pada Substrat Non-Besi (0-200 μm / 8 mil)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N20-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 1.6 [80-0A3-1302] Probe Non-Ferrous untuk Penggunaan pada Substrat Non-Ferrous (0-1600 μm / 63 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N1.6-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 10 [80-0A7-1000] Probe Non-Ferrous untuk Penggunaan pada Substrat Non-Ferrous (80-0A7-1000)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N10-800x800.webp)
![ElektroPhysik N 100 [80-0B1-1000] Probe Non-Besi untuk Digunakan pada Substrat Non-Besi (0-100 mm / 4 inci)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N100-800x800.webp)
![ElektroPhysik FN 1.6 [80-080-1402] Probe Kombinasi Besi dan Non-Besi untuk Penggunaan pada Substrat Besi dan Non-Besi (0-1600 um / 64 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN1.6-800x800.webp)
![ElektroPhysik FN 1.6/90 [80-082-1000] Probe Kombinasi Besi dan Non-Besi 90 Derajat untuk Penggunaan pada Substrat Besi dan Non-Besi (0-1600 μm / 63 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN1.6-90-800x800.webp)
![ElektroPhysik N.08 Cr [80-0A2-1101] Probe Khusus untuk Mengukur Lapisan Krom pada Substrat Tembaga (0-80 μm / 3 mils)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N08-Cr-800x800.webp)
![ElektroPhysik CN02 [80-0B4-1001] Probe Khusus untuk Lapisan Tembaga pada Substrat Isolasi, 0-8 mil (0-200 μm)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_CN02-800x800.webp)
Silakan pilih terlebih dahulu item dan jumlah yang ingin ditambahkan ke Keranjang Anda.
telah ditambahkan ke keranjang Anda
Ada item di keranjang anda.
Subtotal Keranjang: $xxx.xx
Kami tidak dapat menambahkan item ini ke keranjang belanja Anda saat ini. Silakan muat ulang halaman tersebut.
By completing profiles, we can ensure you get the best service
