Gratis Pengiriman
Support Handal
Dapatkan penawaran gratis

ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] Probe untuk Digunakan pada Substrat Besi (80-0AA-1000)

ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] Probe untuk Digunakan pada Substrat Besi (80-0AA-1000)
ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] Probe untuk Digunakan pada Substrat Besi (80-0AA-1000)
Tags/penandaan: Additel , Digital , Pressure , Calibrators

ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] Probe untuk Digunakan pada Substrat Besi (0-50 mm / 2 inci). ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] adalah probe yang dirancang untuk mengukur ketebalan lapisan pada substrat besi (besi dan baja). Fitur utamanya meliputi kompatibilitas dengan model pengukur ketebalan MiniTest tertentu dan fungsinya untuk mengukur ketebalan lapisan pada bahan feromagnetik.

  Pilihan Produk 0 Item Terpilih
Image
Model
Nama Produk
Harga
Ketersediaan
Jumlah
ElektroPhysik F 50 [80-0AA-1000] Probe untuk Digunakan pada Substrat Besi (80-0AA-1000)
80-0AA-1000
Rp.58.109.600
4 - 6 MINGGU
  Produk Terkait 0 Item Terpilih
Beberapa Produk

telah ditambahkan ke keranjang Anda

Ada item di keranjang anda.

Subtotal Keranjang: $xxx.xx

Pergi ke pembayaran