Belanja Berdasarkan Merk
Clamp Meters
Datacom and Networking
Ground Tester
Hand Tools
HVAC Equipment and Instruments
Life Sciences Equipment
Megohmmeter
Multimeters
Oscilloscopse
Power Measurement
Power Supplies
Power Tools
Process / Calibration
Safety Testing / Surge Testing
Safety Equipment
Signal Generators / Counters
Soldering Equipment
Spectrum Analyzers
Surveying Equipment
Thermal Imagers
Merk
Katalog
Test Equipment
Inspector Tools
Environmental
Power Tools
Daftar belanja Anda kosong!
 | ElektroPhysik adalah perusahaan yang memproduksi peralatan untuk pengujian non-destruktif, khususnya perangkat untuk mengukur ketebalan lapisan dan ketebalan dinding. Didirikan pada tahun 1958, perusahaan ini bermarkas di Köln, Jerman, dan produknya digunakan dalam aplikasi industri seperti pengendalian kualitas dalam proses manufaktur. |
By completing profiles, we can ensure you get the best service
![ElektroPhysik F 2.6 [80-135-3400] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 102 mils / 2600 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysi_F2.6-200x200.webp "ElektroPhysik F 2.6 [80-135-3400] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi hingga 102 mils / 2600 Mikron")
![ElektroPhysik N0.3M-90 [80-135-3300] Mikrosensor Versi 90°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 12 mil / 300 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N0.3M-90-200x200.webp "ElektroPhysik N0.3M-90 [80-135-3300] Mikrosensor Versi 90°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Ferrous hingga 12 mil / 300 Mikron")
![ElektroPhysik N0.3M-45 [80-135-3200] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N0.3M-45-200x200.webp "ElektroPhysik N0.3M-45 [80-135-3200] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron")
![ElektroPhysik N0.3M [80-135-3100] Sensor Mikro Versi Lurus, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron.](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N0.3M-200x200.webp "ElektroPhysik N0.3M [80-135-3100] Sensor Mikro Versi Lurus, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 12 mil / 300 Mikron.")
![ElektroPhysik F05M-45 [80-135-2900] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_F05M-45-200x200.webp "ElektroPhysik F05M-45 [80-135-2900] Sensor Mikro Versi 45°, Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Besi hingga 20 mil / 500 Mikron")
![ElektroPhysik FN 2.6 [80-135-3500] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 102 mil / 2600 Mikron (F), 51 mil / 1300 Mikron (N)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN2.6-200x200.webp "ElektroPhysik FN 2.6 [80-135-3500] Sensor Khusus untuk Pengukuran pada Bodi Mobil, Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 102 mil / 2600 Mikron (F), 51 mil / 1300 Mikron (N)")
![ElektroPhysik FN1.5-90 [80-135-2300] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 60 mil / 1500 Mikron (F), 28 mil / 700 Mikron (N)](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_FN1.5-90-200x200.webp "ElektroPhysik FN1.5-90 [80-135-2300] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Besi dan Logam Non-Besi hingga 60 mil / 1500 Mikron (F), 28 mil / 700 Mikron (N)")
![ElektroPhysik N 7 [80-135-2400] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 275 mils / 7000 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N7-200x200.webp "ElektroPhysik N 7 [80-135-2400] Probe untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 275 mils / 7000 Mikron")
![ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N2.5-200x200.webp "ElektroPhysik N2.5 [80-135-0500] Probe untuk Mengukur Pelapisan pada Logam Non-Besi hingga 100 mil / 2500 Mikron")
![ElektroPhysik N0.7-90 [80-135-2200] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mil / 700 Mikron.](image/cache/wp/gp/image/ElektroPhysik_N07.90-200x200.webp "ElektroPhysik N0.7-90 [80-135-2200] Probe untuk Tabung Internal untuk Mengukur Lapisan pada Logam Non-Besi hingga 28 mil / 700 Mikron.")
