SADT HARTIP 3210 [HARTIP3210] Leeb Portable Hardness Tester with Probe E and High Accuracy

HARTIP 3210 adalah generasi baru penguji kekerasan Leeb dengan teknologi dan fitur yang lebih canggih. Penguji menerapkan teknologi sensor kumparan ganda paten baru kami yang menjadikan penguji lebih akurat dibandingkan model lama sebelumnya. Semua perangkat dampak (probe) tidak perlu mengatur arah dampak. HARTIP 3210 dapat bekerja dengan perangkat dampak analogi dan probe RF nirkabel.

Nilai pengukuran dapat diunduh ke PC dan printer melalui nirkabel atau kabel. HARTIP 3210 juga dapat ditenagai oleh catu daya USB tanpa baterai melalui kabel PC.

METODE PENGUKURAN
Prinsip pengukuran penguji kekerasan seri HARTIP didefinisikan sebagai "hasil bagi pantulan benda tumbukan dan kecepatan tumbukan, dikalikan 1000". Badan tumbukan dengan ujung pengujian Tungsten Carbide didorong oleh gaya pegas terhadap permukaan pengujian dan kemudian memantul kembali. Sebuah magnet permanen terkandung di dalam badan tumbukan. Ketika melewati kumparan pada alat tumbukan, ia menginduksi tegangan listrik yang sebanding dengan kecepatan benda tumbukan.