Sistem Probe Empat Titik Ossila adalah bagian dari Platform Prototipe Sel Surya pemenang penghargaan dari Institut Fisika*. Ini adalah solusi berbiaya rendah untuk pengukuran resistansi lembaran, resistivitas, dan konduktivitas material secara cepat dan andal. Sistem ini mencakup probe empat titik, unit pengukuran sumber, dan perangkat lunak PC yang mudah digunakan — memungkinkan lebih banyak laboratorium untuk mengukur lembaran ketahanan dengan harga yang terjangkau. Kepala probe menggunakan kontak pegas yang lembut dan bukan jarum tajam, sehingga meminimalkan kerusakan pada sampel yang halus (misalnya film polimer yang tebalnya hanya beberapa nanometer). Sistem ini dioperasikan melalui perangkat lunak PC yang dirancang khusus, yang secara otomatis menghitung faktor koreksi geometris yang sesuai untuk sampel untuk memberikan nilai akurat untuk resistansi lembaran. Jika ketebalan sampel tersedia, perangkat lunak selanjutnya akan menghitung resistivitas dan konduktivitas.
*Platform Prototipe Sel Surya Ossila adalah kumpulan substrat, material, dan peralatan pelengkap sebagai bagian dari arsitektur referensi fotovoltaik standar berkinerja tinggi. Platform ini memungkinkan para peneliti untuk menghasilkan sel surya berkualitas tinggi dan berfungsi penuh yang dapat digunakan sebagai dasar yang andal.